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TOPCON拓普康芯片外觀檢測設(shè)備Vi4202品牌
佳鼎半導(dǎo)體產(chǎn)地
山東樣本
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TOPCON拓普康芯片外觀檢測設(shè)備Vi4202可以全自動檢查在晶片上圖案化的芯片和在擴(kuò)展前切割的晶片(表面朝上/背面朝上)中的微小異物和缺陷,并以芯片為單位確定合格與否。
環(huán)境條件:
溫度范圍:20~27℃;
濕度范圍:50%±20%以內(nèi);
環(huán)境潔凈度:1000級;
安裝底板每個軸振幅:<64μm;
暫無數(shù)據(jù)!