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XB1152 測(cè)試平臺(tái)品牌
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1. 非易失存儲(chǔ)器晶圓級(jí)BIST測(cè)試平臺(tái)。
2. 通過提高并行測(cè)試數(shù)量，縮小測(cè)試機(jī)外形體積等設(shè)計(jì)顯著降低了測(cè)試成本（COT）。
3. 搭配具有12個(gè)測(cè)試單元的一體prober使用，節(jié)省大量的設(shè)備占用空間。
4. 成熟的自動(dòng)控制系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。
5. 高M(jìn)TBF，低MTTR。
6. 全球裝機(jī)量超過4000臺(tái)。
| 應(yīng)用場(chǎng)景 | NAND/NOR Flash |
| Test Speed | 同測(cè)數(shù)高達(dá)1152 個(gè)DUTS |
| Image Capture Speed | 每個(gè)DUT分配獨(dú)立的4個(gè)pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin |
| 工作頻率 | 20 MHz |
| 電源范圍 | 0 ~ 4 V 200 MA 每個(gè)DUT |
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