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產(chǎn)品型號
晶圓隱裂外觀檢測設(shè)備-ADS
應(yīng)用場景
成型、拋光
檢測缺陷
隱裂、崩邊、劃傷、線痕、化學(xué)臟污
檢測精度
隱裂:30μm、正反面:20um;
產(chǎn)能
185 WPH@300mm
產(chǎn)品特點
隱裂檢、高產(chǎn)能、低過檢、ADC
晶圓種類
Ф6″、Ф8″、Ф12″(尺寸可定制)
適用于成型、拋光工藝段,應(yīng)用明場及紅外檢測原理進行無圖形晶圓的正反面及內(nèi)部無法肉眼觀測的隱裂缺陷檢測,具備崩邊、劃傷、線痕、化學(xué)臟污、隱裂等微小缺陷的檢出能力
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價比
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