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ParcanNano 針尖技術與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng)
簡介：
公司以全球****的針尖技術為核心競爭力，技術源自于德國伊爾默瑙工業(yè)大學，致力于主動式針尖技術在微納米結構制備和表征方面的研發(fā)，及其相關設備的產業(yè)化。
公司開發(fā)的針尖技術模塊為滿足高精度成像而空間受限的應用需求而設計，既可以在大氣環(huán)境下實現(xiàn)樣品快速表征，也可以集成在真空環(huán)境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對SEM腔室進行任何改造，保留SEM原有功能，賦予嶄新的應用領域，例如進行原位形貌表征、微操作和針尖誘導沉積。
技術特點：
。不影響掃描電鏡自身功能
。4mm電鏡工作距離
。 原子力、電子束及離子束功能聯(lián)用
。 標準數據法蘭接口，方便安裝
。 大氣、真空環(huán)境操作
。 體積小，重量輕，靈活
。樣品可掃范圍大 20 x 20 mm
。 自激發(fā)自傳感智能針尖
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