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XRD 系列
晶圓和鑄錠快速準(zhǔn)確的晶向定位
從全自動(dòng)的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,我們的晶向定位解決方案在
設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應(yīng)用場(chǎng)景。此系列產(chǎn)品利用
XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中，提供簡(jiǎn)單、快速、高精度的晶體定
向測(cè)量，大大提高產(chǎn)品良率。
Omega/Theta（XRD）
用于超快晶體定向的全自動(dòng)垂直三軸XRD
10秒內(nèi)完成定向
定向精度：0.003°
定向轉(zhuǎn)移技術(shù)：多鑄錠取向測(cè)定，實(shí)現(xiàn)高效切割
晶錠端面及定位邊定向和轉(zhuǎn)移夾具可選
光學(xué)測(cè)量工具可選，可測(cè)樣品直徑、平邊/V 槽位置、形狀、長(zhǎng)度、深度
適應(yīng)不同樣品的精密樣品轉(zhuǎn)盤、mapping臺(tái)和工裝夾具
搖擺曲線測(cè)量
DDCOM（XRD）
緊湊型超快晶體自動(dòng)定向儀
10秒內(nèi)完成定向
定向精度：0.01°
兩個(gè)閃爍探測(cè)器
專為方位角設(shè)置和晶向標(biāo)記而設(shè)計(jì)
可測(cè)直徑為 8 mm 至**225 mm的晶圓和晶錠
無需水冷
SDCOM（XRD）
用戶友好的緊湊型多功能XRD
超快測(cè)量，10秒內(nèi)返回結(jié)果
定向精度：0.01°
定向轉(zhuǎn)移技術(shù)：多鑄錠取向測(cè)定，實(shí)現(xiàn)高效切割
光學(xué)測(cè)量工具可選，可測(cè)樣品直徑、平邊/V 槽位置、形狀、長(zhǎng)度、深度
樣品直徑1-200mm
無需水冷
XRD-OEM
在線晶體定向測(cè)定
標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)接口，可集成到任何自動(dòng)化或加工系統(tǒng)中
線切/研磨前對(duì)大型晶錠進(jìn)行全自動(dòng)在線定向
可內(nèi)置于磨床和切割機(jī)等惡劣環(huán)境中使用
平邊/V槽的光學(xué)測(cè)量功能，如位置、形狀、長(zhǎng)度、深度等
Wafer XRD 200 / 300
Wafer XRD 200
無縫融入生產(chǎn)線的全自動(dòng)高速XRD
用于3-8英寸晶圓片
定向精度：0.003°
產(chǎn)能：100萬片/年
幾秒鐘內(nèi)提供各種基本參數(shù)的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，如晶體取向和電阻率、幾何特征（如 V 槽和平槽）、距離測(cè)量等
全自動(dòng)處理和揀選晶圓片
Wafer XRD 300
用于300mm晶圓生產(chǎn)的高速XRD
超快速提供12英寸晶圓的晶體取向和幾何特征等
定向精度：0.003°
幾秒鐘內(nèi)提供各種基本參數(shù)的關(guān)鍵數(shù)據(jù)，如晶體取向和電阻率、幾何特征（如 V 槽和平槽）、距離測(cè)量等
附加功能
晶圓面掃 鑄錠堆垛
自動(dòng)化晶圓揀選 小樣品夾具
暫無數(shù)據(jù)！
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊(cè) 
近日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單，并成功在美國(guó)High Desert A
馬爾文帕納科的粒度分析技術(shù)以其全面性、用戶友好性、在關(guān)鍵行業(yè)的廣泛應(yīng)用、可靠性、智能化、自動(dòng)化以及持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新而受到業(yè)界的高度評(píng)價(jià)。一臺(tái)高性能的粒度分析設(shè)備，它不但會(huì)帶來更好的使用體驗(yàn)，還會(huì)創(chuàng)造更多
9月21日，第十六屆馬爾文帕納科X射線分析儀器用戶技術(shù)交流會(huì)在上海西郊麗笙酒店落下帷幕，此次活動(dòng)共有150多位業(yè)內(nèi)資深專家、行業(yè)用戶、企業(yè)代表齊聚一堂，聚焦X射線分析儀器技術(shù)發(fā)展及其熱點(diǎn)應(yīng)用，以豐富的
本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正極材料，已被證實(shí)具有非常好的精度和準(zhǔn)確度，可以高通量測(cè)試并獲得與ICP相媲美的高質(zhì)量的分析結(jié)果。那么利用占地更小、更經(jīng)濟(jì)、更易操作的能量色散型X射線熒光光譜儀是
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測(cè)試報(bào)告中的的參數(shù)都有哪些，分別代表了什么含義？本文將逐一解釋。如下圖所示，Zetasizer的電位測(cè)試報(bào)告的形式分為三個(gè)部分：Sample
本文摘要在乳糖不耐性、營(yíng)養(yǎng)需求和環(huán)保意識(shí)的驅(qū)動(dòng)下，替代乳品的市場(chǎng)需求在全球范圍內(nèi)不斷擴(kuò)大，馬爾文帕納科的多種分析技術(shù)在替代乳品的研發(fā)和質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用，幫助企業(yè)確保替代乳品的營(yíng)養(yǎng)成分和產(chǎn)品安全
XRD系列晶向定位的工作原理介紹？XRD系列晶向定位的使用方法？XRD系列晶向定位多少錢一臺(tái)？XRD系列晶向定位使用的注意事項(xiàng)XRD系列晶向定位的說明書有嗎？XRD系列晶向定位的操作規(guī)程有嗎？XRD系列晶向定位的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？XRD系列晶向定位有現(xiàn)貨嗎？XRD系列晶向定位包安裝嗎？
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