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專為TKD分析的樣品座，TKD即透射菊池花樣演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技術(shù)，是**用于檢測僅十幾納米尺度的EBSD分析方法，空間分辨率比傳統(tǒng)技術(shù)提高一個(gè)數(shù)量級(jí)。該樣品座方便用戶將超輕薄樣品放 置于SEM中并符合光學(xué)原理的衍射花樣，保證獲得更加準(zhǔn)確的信號(hào)量。

TKD分析仍使用原有EBSD軟硬件，只是樣品更薄且經(jīng)過電解拋光穿孔。由于衍射信號(hào)來自樣品下側(cè)幾個(gè)或幾十個(gè)納米厚度的區(qū)域，該技術(shù)也被稱為透射 EBSD（T-EBSD）。樣品薄區(qū)的衍射范圍較小，樣品與探測器及極靴的幾何位置是否理想是獲得有效信號(hào)的必要條件之一。因此設(shè)計(jì)專門的樣品座做TKD 分析就顯得尤關(guān)重要。

TKD樣品座是專為超薄樣品設(shè)計(jì)，易于固定且符合光學(xué)原理。置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系統(tǒng)輕松方便的實(shí)現(xiàn)高分辨的EBSD分析。