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用于FIB和SEM的OmniProbe納米操縱手自1995年以來客戶口碑較好，市場占有率較高，目前有三種型號可滿足不同的預(yù)算和應(yīng)用 OP350，OP400及Cryo。

OmniProbe 350提供精確的納米級控制。其緊湊的端口安裝設(shè)計(jì)，大限度地減少與其他探測器和附件的干擾。憑借穩(wěn)定的探針平臺和亞納米壓電馬達(dá)，這一代的探針具有低振動、低漂移和**的定位精度。再結(jié)合直觀的用戶界面，其運(yùn)動方向是基于所見的圖像進(jìn)行校準(zhǔn)的。

OmniProbe 400采用壓電驅(qū)動技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)納米級別的定位。 OmniProbe 400具有很高的靈活性和性能，是高分辨率和高效率的納米操縱手。

Cryo將樣品提取功能擴(kuò)展至低溫樣品（包括用高壓冷凍法制備的樣品）。低溫-聚焦離子束顯微鏡（Cryo-FIB）的提取功能可以在經(jīng)第三方低溫系統(tǒng)冷卻至-180°C的樣品上操作。通過結(jié)合低溫-透射電子顯微鏡（Cryo-TEM）或低溫-原子探針(cryo-atom probe)可以拓展納米分析的樣品類型和應(yīng)用領(lǐng)域 。