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Omega/Theta XRD 用于超快速晶體定向和搖擺曲線測量
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了良好的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短 10 秒內(nèi)返回結(jié)果,具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件,可容納重量達30kg、長度達 450mm 的一系列樣品。它是將測量好的取向轉(zhuǎn)移到加工工具的可靠合作伙伴。
精度:在偏角幅度和面內(nèi)方向上達到<0.003°/<0.03°的精度(1σ)
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
以3D形式自動評估完整晶格取向
用于研究和生產(chǎn)質(zhì)量的控制
晶體取向的方位設(shè)置和標記
提供多種附件用于將取向轉(zhuǎn)移到其他工藝步驟
通過測角儀實現(xiàn)未知樣品的的掃描和定向
可使用搖擺曲線測量進行晶體質(zhì)量評估
用戶友好、性價比高
樣品處理方便,操作簡單
用戶友好的高級軟件
能耗和運行成本低
模塊化設(shè)計和靈活性
通過各種升級選項滿足未來需求
根據(jù)客戶要求為特殊應(yīng)用定制的解決方案
平邊和 V 槽的光學(xué)測量
暫無數(shù)據(jù)!
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
月壤分析最新突破近日,中科院地質(zhì)與地球物理研究所巖石圈演化與環(huán)境演變?nèi)珖攸c實驗室的研究團隊( 薛丁帥高級工程師和劉艷紅高級工程師為并列第一作者 )聯(lián)合中國科學(xué)院國家天文臺在《Analytical C
活動回顧近日,第十八屆藥機展(PMEC 2025 )在上海新國際博覽中心落下帷幕,馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)
展期:2025年6月24日-26日展館:上海新國際博覽中心W5館地址:上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號展位號:W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日,馬爾文帕納科(Ma
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布,而分形維數(shù)則是對這種分布背后 “形態(tài)復(fù)雜性” 的量化。通過計算分形維數(shù),能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結(jié)構(gòu)信息,為理解顆粒的形成機制、優(yōu)化制備工藝、預(yù)測性能提供重要依據(jù)
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會影響晶體生長動力學(xué)、界面特性和器件的電場分布,決定了SiC功率器件的性能,傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級為“核心競爭力”,本文將介紹4°傾角及其方向的重要性,以及馬爾文帕
本文由馬爾文帕納科XRD應(yīng)用專家陳辰供稿本文摘要PLSR 偏最小二乘回歸(Partial Least Squares Regression)是一種常用于處理多重共線性數(shù)據(jù)的統(tǒng)計建模方法。用于XRD定量