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少子壽命測量儀BCT-400
BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命.
因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的*敏感的技術(shù)參數(shù)，這個工具直接獲得長硅的質(zhì)量參數(shù)。
作為*易于使用的測量工具－－BLS，只需要有直徑150mm大小的平面。如果只是測量平面樣品的話，請選擇BCT-400。
暫無數(shù)據(jù)！
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