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對多通道功率驅(qū)動照明和OLED壽命測量進行了優(yōu)化。
M6000 PLUS OLED壽命測試系統(tǒng)是用來測試OLED材料在高、低溫之間承受持續(xù)電源或環(huán)境變化的能力，從而了解在指定時間內(nèi)降解引起的化學(xué)變化或物理損傷。適用于OLED器件，Panel，模組；壽命測試結(jié)果可作為改進和提高OLED材料質(zhì)量的參考或依據(jù)。
-相對壽命測試
-相對I-V-L試驗
-老化測試
-多電流/光電流范圍
-方序列運算
-利用溫/濕控制腔室進行加速測試
暫無數(shù)據(jù)！
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