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Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀(SAS)
Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀,是一款基于“膠帶粘取”采樣技術(shù)的表面污染檢測(cè)工具,可通過(guò)間接測(cè)量方式識(shí)別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 PMC 采樣卡能在各類表面(包括難以觸及區(qū)域和高粗糙度表面)實(shí)現(xiàn)靈活采樣,且不會(huì)殘留可檢測(cè)的痕跡。該設(shè)備可在數(shù)秒內(nèi)完成 225 mm2 采樣區(qū)域的分析,確??焖佾@得精準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果。搭配 2 英寸晶圓支架,也可對(duì)沉降顆粒進(jìn)行檢測(cè),滿足跨行業(yè)復(fù)雜場(chǎng)景的檢測(cè)需求。
產(chǎn)品特點(diǎn)
符合 ISO 14644-9 標(biāo)準(zhǔn):在用戶界面生成具有認(rèn)證的 PDF 報(bào)告
檢測(cè)范圍:可檢測(cè)低至 0.5 um 顆粒
穩(wěn)定:90% 采集效率 | >90% 重復(fù)性
快速:10 秒完成檢測(cè)
數(shù)秒內(nèi)完成表面清潔度測(cè)量
快速: 成像僅需數(shù)秒
定量: 可溯源的定量化結(jié)果
操作簡(jiǎn)便: 操作結(jié)果不受操作人員影響
? 用于產(chǎn)線質(zhì)量管控的即時(shí)判定
? 用于研發(fā)人員的進(jìn)一步數(shù)據(jù)分析
? 用于監(jiān)測(cè)、快速驗(yàn)證和統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制
精準(zhǔn): 高分辨率測(cè)量(數(shù)量、位置、尺寸)
穩(wěn)定: 多次測(cè)量結(jié)果高重復(fù)性
高通量: 即時(shí)給出合格/不合格結(jié)果
儀器表面顆粒物分析儀(SAS)
該系該儀器通過(guò)采樣器間接測(cè)量表面顆粒污染水平。使用采樣器方便 用戶隨時(shí)在各種產(chǎn)品和組件上采集顆粒污染樣本。
使用采樣器進(jìn)行間接測(cè)量
使用采樣器甚至能對(duì)難以觸及的地方以及相對(duì)粗糙的表面進(jìn)行可 靠測(cè)量。采樣器(來(lái)自經(jīng)過(guò)認(rèn)證的供應(yīng)商)不會(huì)造成交叉污染。
分析儀能在數(shù)秒內(nèi)完成對(duì)采樣器的檢測(cè),這使測(cè)試工作流程可控制 在一分鐘以內(nèi)。采樣器可放在采樣器支架中運(yùn)輸、重新測(cè)量和進(jìn)一 步分析。
具有多種采樣器選擇,包括用于間接檢測(cè)的粘取采樣器(含支架)和 用于落塵檢測(cè)的2英寸晶圓套件。
這種適應(yīng)性使其適用于跨多個(gè)行 業(yè)的不同測(cè)試場(chǎng)景,能提供可靠測(cè)量數(shù)據(jù)并深入洞察污染水平。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
INVITATION 第二屆人工智能傳感器與換能器國(guó)際會(huì)議將于 7 月 29 日- 8 月 3 日在馬來(lái)西亞吉隆坡舉辦。我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您參加并蒞臨我們的【2】號(hào)展位,與技術(shù)銷售工程師 Vinc
近日,揚(yáng)州小天光子科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱“小天光子”)成功引入桌面掃描電鏡領(lǐng)導(dǎo)者---飛納電鏡旗下的旗艦設(shè)備 Phenom ProX G6 掃描電鏡能譜一體機(jī),并順利完成了安裝與驗(yàn)收,正式投
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摘要:隨著汽車工業(yè)對(duì)質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測(cè)已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對(duì)微小顆粒的識(shí)別需求,因此,先進(jìn)的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具,憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工