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儀器表面顆粒物分析儀(SAS)
儀器表面顆粒物分析儀(SAS)

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

FM-PS-SAS-V01

品牌

Fastmicro

產(chǎn)地

荷蘭

樣本

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

金牌會(huì)員

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第8年

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Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀(SAS)


Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀,是一款基于“膠帶粘取”采樣技術(shù)的表面污染檢測(cè)工具,可通過間接測(cè)量方式識(shí)別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 PMC 采樣卡能在各類表面(包括難以觸及區(qū)域和高粗糙度表面)實(shí)現(xiàn)靈活采樣,且不會(huì)殘留可檢測(cè)的痕跡。該設(shè)備可在數(shù)秒內(nèi)完成 225 mm2 采樣區(qū)域的分析,確??焖佾@得精準(zhǔn)檢測(cè)結(jié)果。搭配 2 英寸晶圓支架,也可對(duì)沉降顆粒進(jìn)行檢測(cè),滿足跨行業(yè)復(fù)雜場(chǎng)景的檢測(cè)需求。


產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 符合 ISO 14644-9 標(biāo)準(zhǔn):在用戶界面生成具有認(rèn)證的 PDF 報(bào)告

  • 檢測(cè)范圍:可檢測(cè)低至 0.5 um 顆粒

  • 穩(wěn)定:90% 采集效率 | >90% 重復(fù)性

  • 快速:10 秒完成檢測(cè)


數(shù)秒內(nèi)完成表面清潔度測(cè)量

快速: 成像僅需數(shù)秒

定量: 可溯源的定量化結(jié)果

操作簡(jiǎn)便: 操作結(jié)果不受操作人員影響

用于產(chǎn)線質(zhì)量管控的即時(shí)判定

? 用于研發(fā)人員的進(jìn)一步數(shù)據(jù)分析

? 用于監(jiān)測(cè)、快速驗(yàn)證和統(tǒng)計(jì)過程控制 

精準(zhǔn): 高分辨率測(cè)量(數(shù)量、位置、尺寸) 

穩(wěn)定: 多次測(cè)量結(jié)果高重復(fù)性 

高通量: 即時(shí)給出合格/不合格結(jié)果

FM-SAS-產(chǎn)品.png

儀器表面顆粒物分析儀(SAS)

該系該儀器通過采樣器間接測(cè)量表面顆粒污染水平。使用采樣器方便 用戶隨時(shí)在各種產(chǎn)品和組件上采集顆粒污染樣本。


使用采樣器進(jìn)行間接測(cè)量

使用采樣器甚至能對(duì)難以觸及的地方以及相對(duì)粗糙的表面進(jìn)行可 靠測(cè)量。采樣器(來自經(jīng)過認(rèn)證的供應(yīng)商)不會(huì)造成交叉污染。


分析儀能在數(shù)秒內(nèi)完成對(duì)采樣器的檢測(cè),這使測(cè)試工作流程可控制 在一分鐘以內(nèi)。采樣器可放在采樣器支架中運(yùn)輸、重新測(cè)量和進(jìn)一 步分析。


具有多種采樣器選擇,包括用于間接檢測(cè)的粘取采樣器(含支架)和 用于落塵檢測(cè)的2英寸晶圓套件。

這種適應(yīng)性使其適用于跨多個(gè)行 業(yè)的不同測(cè)試場(chǎng)景,能提供可靠測(cè)量數(shù)據(jù)并深入洞察污染水平。



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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
評(píng)論內(nèi)容
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儀器表面顆粒物分析儀(SAS)信息由復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于儀器表面顆粒物分析儀(SAS)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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