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MDPinline高速晶圓片在線面檢測儀-一秒內(nèi)完成晶
MDPinline高速晶圓片在線面檢測儀-一秒內(nèi)完成晶

參考價(jià)格

面議

型號

品牌

產(chǎn)地

德國

樣本

暫無
束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

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MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器,在不到一秒的時(shí)間內(nèi),就可以“動(dòng)態(tài)”測量出晶圓圖。該儀器可為每個(gè)晶圓片提供完整的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),極大提高了生產(chǎn)線的成本效益和效率。且其實(shí)時(shí)質(zhì)量檢測可以提高和優(yōu)化諸如擴(kuò)散和鈍化等處理步驟。

產(chǎn)品優(yōu)勢▼

在不到一秒的時(shí)間內(nèi),可對一個(gè)晶圓片進(jìn)行全電特性測試。測量參數(shù):載流子壽命(拓?fù)鋱D)、電阻率(雙線掃描)。

在非常短的時(shí)間內(nèi)獲得數(shù)以千計(jì)的晶圓片的統(tǒng)計(jì)信息可有效地幫助晶圓廠控制過程和生產(chǎn)。

適用于測量晶圓片的材料質(zhì)量,以及識別晶圓片層面的結(jié)晶問題,例如在光伏行業(yè)。

適用于擴(kuò)散過程的完整性控制、鈍化效率和均勻性控制。

Si3N4 and SiC segregates in multi-crystalline silicon

Microcrystalline inclusions

Investigation of passivation quality...

Cz-Si with bulk defects, separation...

Multicrystalline silicon wafers

技術(shù)參數(shù)

樣品厚度

100 μm up to 1 mm

樣品尺寸

在125 x 125 和210 x 210 mm2 之間,或 4”到18”

電阻率

0.2 - 103 Ohm cm

傳導(dǎo)類型

p, n

材質(zhì)

硅晶圓,部分或完全加工的晶圓片,化合物半導(dǎo)體等

測量性能

少數(shù)載流子壽命(穩(wěn)態(tài)或非平衡(μ-PCD)可選擇的)

測量位置

默認(rèn)2.8 mm, 其它可選

檢測時(shí)間

獲得完整的一張晶圓圖時(shí)間小于1秒

尺寸

400 x 400 x 450 mm,重量:29 kg

電源

24 V DC, 4 A

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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性價(jià)比

10分
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