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弗萊貝格的MDPpro(晶圓片/晶錠壽命檢測(cè)儀)系列主要用于測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查等,其非接觸式檢測(cè)和無損成像(μPCD /MDP(QSS))的設(shè)計(jì)完全符合SEMI標(biāo)準(zhǔn)PV9-1110。這也使得該儀器在晶圓切割、爐內(nèi)監(jiān)控和材料優(yōu)化等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用??梢哉f,MDPpro是晶錠生產(chǎn)商以及晶體爐技術(shù)生產(chǎn)商的標(biāo)準(zhǔn)儀器。
u 無接觸和無破壞的半導(dǎo)體檢測(cè);
u 特殊“underneath the surface”壽命測(cè)量技術(shù);
u 對(duì)不可見缺陷的可視化測(cè)試具有很高靈敏度;
u 自動(dòng)設(shè)置硅錠切割標(biāo)準(zhǔn);
u 空間分辨p/n電導(dǎo)型變換檢測(cè);
u 多項(xiàng)數(shù)據(jù)同時(shí)自動(dòng)檢測(cè)掃描,5幅測(cè)量圖形同時(shí)繪制;
u 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)和易于設(shè)置的性能。安裝,僅需要電源。
高產(chǎn)量:>240塊/天或>720片/天
測(cè)量速度:對(duì)于156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠,<4分鐘
良品率提升:1mm切割標(biāo)準(zhǔn)為156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠
質(zhì)量控制:用于過程和材料的質(zhì)量監(jiān)控,如單晶硅或多晶硅
沾污檢測(cè):起源于坩堝和生產(chǎn)設(shè)備的金屬(Fe)
可靠性:模塊化和堅(jiān)固耐用的工業(yè)儀器,更高可靠性,運(yùn)行時(shí)間> 99%
可重復(fù)性:> 99.5%
電阻率:可做面掃描,不需經(jīng)常校準(zhǔn)
a.鐵濃度測(cè)定
b.陷阱濃度測(cè)定
c.硼氧測(cè)定
d.依賴于注入的測(cè)量等
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價(jià)比