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MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀
MDPpro晶圓片/晶錠壽命檢測儀

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德國

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束蘊儀器(上海)有限公司

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Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device

應(yīng)用范圍用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

根據(jù)SEMI標準PV9-1110的非接觸式和無損成像(μPCD / MDP(QSS))、光電導性、電阻率和p/n檢查。

晶圓切割,爐內(nèi)監(jiān)控,材料優(yōu)化等。

日常壽命測量,質(zhì)量控制和檢驗◆產(chǎn)量:>240塊/天或>720片/天

◆測量速度:對于156x156x400mm標準晶錠,<4分鐘

◆生產(chǎn)改善:1mm切割標準為156x156x400mm標準晶錠

◆質(zhì)量控制:用于過程和材料的質(zhì)量監(jiān)控,如單晶硅或多晶硅

◆污染測定:起源于爐和設(shè)備的金屬(Fe)

◆可靠性:模塊化和堅固耐用的工業(yè)儀器,更高的可靠性和運行時間> 99%

◆可重復性:> 99.5%

◆電阻率:不需要經(jīng)常校準

精密材料研發(fā)

鐵濃度測定

陷阱濃度測定

硼氧測定

依賴于注入的測量等

特性

完全無觸點無破壞的半導體特性

特殊的“表面之下”壽命測量技術(shù)

不可見缺陷的靈敏度的可視化

自動切割標準定義

空間分辨p/n電導型變換檢測

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10分

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