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Mono- and Multi-crystalline wafer lifetime measurement device
應(yīng)用范圍:用于精密材料研發(fā)的單晶和多晶片的壽命測量
●靈敏度:外延片不可見的缺陷和檢測的 靈敏度的可視化
●測量速度:6英寸硅晶圓片,1mm分辨率 ,小于5分鐘
●使用壽命: 20納秒到幾毫秒
●污染測定:源自爐和設(shè)備的金屬(Fe)污染
●測量能力:從初始切割的晶圓片到完全加工的樣品
●靈活性:固定測量頭允許外部激光與觸發(fā)器耦合
●可靠性: 模塊化和緊湊的臺式儀器,更高的可靠性和正常運行時間> 99%
●重現(xiàn)性: > 99.5%
●電阻率:不需要頻繁校準(zhǔn)
MDPmap是一個緊湊的臺式無觸點電子特性的離線生產(chǎn)控制或研發(fā)的工具??蓽y量參數(shù)如載流子壽命、光電導(dǎo)性、電阻率、缺陷信息在穩(wěn)態(tài)或注入范圍寬短脈沖勵磁(μ-PCD)。自動化的樣品識別和參數(shù)設(shè)置可以方便地適應(yīng)各種不同的樣品,包括在不同的制備階段,從生長的晶圓片到高達95%的金屬化晶圓片的外延片和晶圓片。。
MDPmap的主要優(yōu)點是其高度的靈活性,它允許集成*多4個激光器,用于從超低注入到高注入的依賴于注入水平的壽命測量,或者使用不同的激光波長提取深度信息。包括偏置光設(shè)施以及μ-PCD或穩(wěn)態(tài)注入條件的選項。可以使用不同的圖進行客戶定義的計算,也可以導(dǎo)出原始數(shù)據(jù)進行進一步的評估。對于標(biāo)準(zhǔn)計量任務(wù),可用一個預(yù)定義的標(biāo)準(zhǔn),使常規(guī)測量只需按一個按鈕。
暫無數(shù)據(jù)!